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DRK-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如：材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟(jì)的許多部門，如能源、動力、機(jī)械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來越多的細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問題有待解決，顆粒粒徑大小的測量是其中最基本也是最重要的一個方面。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量，而且對工藝過程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來，與高新尖端技術(shù)、國防工業(yè)、軍事科學(xué)等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料，特別是超細(xì)納米顆粒的問世和利用，給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息，以滿足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應(yīng)用的需要。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿足用戶上述新要求而精心研制開發(fā)的最新一代激光粒度分析儀。該儀器集先進(jìn)激光技術(shù)、半導(dǎo)體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用，綜合了光、機(jī)、電、計算機(jī)于一體，以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測量技術(shù)突出的優(yōu)點逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測量儀器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來越大的作用。
DRK-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如：材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
技術(shù)特點:
1.獨特的半導(dǎo)體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源，波長短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長；
2.獨特設(shè)計大直徑光靶，保證測量范圍大，0.1-1000微米全測量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動樣品池；
3.集多年研究之成果，米氏理論的完美應(yīng)用；
4.獨特反演算法，保證顆粒測量的準(zhǔn)確；
5.USB接口，儀器與計算機(jī)一體化，內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦，可連接鍵盤、鼠標(biāo)、U盤
6.測量時循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用；
7.樣品池模塊化設(shè)計，更換模塊可實現(xiàn)不同的測試模式；循環(huán)樣品池內(nèi)置超聲分散裝置，可有效分散團(tuán)聚顆粒
8.樣品測量可完全自動化，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進(jìn)水管和排水管，進(jìn)水、測量、排水、清洗，啟動超聲分散裝置等操作可完全自動進(jìn)行，同時也提供手動測量菜單；
9.軟件個性化，提供測量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用戶操作?/span>
10.測量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進(jìn)行調(diào)用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；
11.儀器造型美觀，體積小重量輕；
12.測量精度高，重復(fù)性好，測量時間短；
13.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求；
14.考慮到測試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理；
15.本儀器符合但并不局限于以下標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
技術(shù)參數(shù):
型號 | DRK-W1 | DRK-W2 | DRK-W3 | DRK-W4 |
理論依據(jù) | Mie散射理論 | |||
粒徑測量范圍 | 0.1-200um | 0.1-400um | 0.1-600um | 0.1-1000um |
光源 | 半導(dǎo)體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長635nm | |||
重復(fù)性誤差 | <1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差） | |||
測量誤差 | <1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差，用國家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗） | |||
檢測器 | 32或48通道硅光電二極管 | |||
樣品池 | 固定樣品池、循環(huán)樣品池（內(nèi)置超聲分散裝置） | |||
測量分析時間 | 正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結(jié)果） | |||
輸出內(nèi)容 | 體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計平均直徑；操作者信息；實驗樣品信息、分散介質(zhì)信息等。 | |||
顯示方式 | 內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦，可連接鍵盤、鼠標(biāo)、U盤 | |||
電腦系統(tǒng) | WIN 10系統(tǒng)，30GB硬盤容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存 | |||
電源 | 220V，50 Hz | |||
工作條件:
1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃
2.相對溫度：不大于85%（無冷凝）
3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無強(qiáng)磁場干擾。
4.由于在微米級的范圍內(nèi)的測量，儀器應(yīng)放在堅固可靠、無振動的工作臺上，并且在少塵條件下進(jìn)行測量。
5.儀器不應(yīng)放在太陽直射、風(fēng)大或溫度變化大的場所。
6.設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。
7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無腐蝕性氣體。
注：因技術(shù)進(jìn)步更改資料，恕不另行通知，產(chǎn)品以后期實物為準(zhǔn)。
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